設備

               

ＩＣＰ発光分光分析装置（日立ハイテクサイエンス：ＰＳ７８００）

仕様

最⾼使⽤温度： 対象外
有効⼨法： 対象外
雰囲気： 対象外

特徴

  • 本装置は卓上型のＩＣＰ発光分光分析装置で多元素同時分析、逐次分析が可能です。
  • 検量線の直線範囲が広い。
  • 化学干渉、イオン化干渉が少なく高マトリックス試料の分析が可能。
  • 高感度である。（検出下限は大半の元素に対して10ppb以下）
  • 測定可能元素が多い、原子吸光法で困難なZr、Ta、希土、P、なども容易に分析できる。

    • 用途
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