設備

ICP発光分光分析装置(日立ハイテクサイエンス:PS7800)

仕様

最⾼使⽤温度: 対象外
有効⼨法: 対象外
雰囲気: 対象外

特徴

  • 本装置は卓上型のICP発光分光分析装置で多元素同時分析、逐次分析が可能です。
  • 検量線の直線範囲が広い。
  • 化学干渉、イオン化干渉が少なく高マトリックス試料の分析が可能。
  • 高感度である。(検出下限は大半の元素に対して10ppb以下)
  • 測定可能元素が多い、原子吸光法で困難なZr、Ta、希土、P、なども容易に分析できる。
  • 用途
    備考

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